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Levando a caracterização de materiais multimodal mais longe com a técnica de microscopia eletrônica de varredura com feixe de íons de Xe (Plasma FIB-SEM)
Neste webinar, mostraremos as técnicas mais recentes para caracterização química e estrutural de materiais utilizando a técnica de MEV com duplo feixe, aliado a correlação direta de diversas técnicas analíticas recentes. Abordaremos aplicações práticas utilizando detectores como EDS, EBSD, TOF SIMS, RAMAN e outros, acoplados ao microscópio eletrônico com feixe de íons de Ga e íons de Xe, facilitando assim o total entendimento dos materiais em estudo.

Jul 14, 2020 11:00 AM in Sao Paulo

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